Alles over processing en handling van droge stoffen, stortgoed, bulk

SolidsProcessing.nl
  marktleider in de solids-branche

     

     

Blijf op de hoogte!

Blijf op de hoogte!
Lees de maandelijke nieuwsbrief.

Uw adres wordt nooit aan derden doorgegeven.
Lees onze privacyverklaring.

02-06-2016

Deeltjes in 3D zien met dynamische beeldanalyse (DIA)

Printversie
Stuur per email
Twitter dit bericht
Deel op LinkedIn

 
Dynamische beeldanalyse DIA
3D dynamische beeldanalyse
Schematische weergave DIA

De deeltjeskarakteriseringstechniek DIA (Dynamic Image Analysis oftewel; Dynamische beeldanalyse), groeit snel in populariteit. Deze meest recente en geavanceerde techniek onderscheidt zich van conventionele methoden door het meten van ieder deeltje afzonderlijk met zijn aanzienlijk hogere resolutie. De techniek stelt u in staat grote aantallen deeltjes automatisch te meten in slechts een paar minuten.

Conventionele deeltjeskarakteriseringsmethoden
Conventionele methoden meten slechts ťťn deeltjesparameter, de sferische equivalente diameter (ESD). De meeste van de conventionele methoden zijn zogenaamde ensemble meettechnieken. Dit betekent dat zij een signaal meten dat wordt gegenereerd door een groot ensemble van deeltjes die zich tegelijkertijd in het detectiegebied bevinden. Laser diffractie (LD), sedimentatie, en zeefanalyse zijn de drie belangrijkste voorbeelden. Elektrische Sensing Zone (ESZ) en lichtabsorptie technieken zijn hierop uitzonderingen, zij meten individuele deeltjes ťťn voor ťťn maar rapporteren alleen de ESD samen met het aantal deeltjes.

De hierboven beschreven methoden detecteren de deeltjes door middel van tuimelen in al hun verschillende willekeurige oriŽntaties. Dit betekent dat alleen als de deeltjes bolvormig zijn de verkregen data zinvolle informatie bevat. Een staafvormig deeltje gezien vanaf het einde wordt gerapporteerd als een bol met een diameter ter grootte van de kleinste afmeting van de staaf. Gezien in zijn langste afmeting zou dit deeltjes dus gemeten worden als een bol met die diameter.

Driedimensionale deeltjeskarakterisering
Dynamische beeldanalyse (DIA) wordt over het algemeen beschouwd als de meest recente en geavanceerde commerciŽle deeltjeskarakteriseringstechniek en ook steeds meer op grote schaal toegepast. Deze techniek heeft een aanzienlijk hogere resolutie dan de meeste gebruikte conventionele technieken omdat ieder deeltje afzonderlijk gemeten wordt. Van elk deeltje kunnen tot wel 25 verschillende grootte en vorm parameters worden weergegeven. Verder is deze techniek ongecompliceerd en gemakkelijk te gebruiken. Eenvoudig worden fotoís van elk deeltje gedigitaliseerd en opgeslagen in een zichtbaar beeldbestand. Vervolgens wordt de grootte gemeten door het tellen van het aantal pixels.

Geen enkele andere deeltjeskarakteriseringsmethode is zo ongecompliceerd. De techniek werd commercieel haalbaar met de komst van goedkope, hoge snelheid en hoge-resolutie CCD (en nu CMOS) cameraís. Betaalbare hoge snelheid en massaopslag computers maken de techniek steeds populairder. In tegenstelling tot de traditionele microscopie kunnen nu grote aantallen deeltjes (dus statistisch valide monsters) automatisch gemeten worden in slechts een paar minuten tijd.

DeeltjesoriŽntatie voor DIA
De meeste DIA apparatuur heeft te maken met dezelfde willekeurige oriŽntatie van deeltjes als die de conventionele methoden hebben. Dit voegt dus alleen ruis toe aan de gegevens en maakt de data van weinig waarde voor deeltjes die niet bolvormig zijn. Een aantal DIA systemen bevatten technieken die de deeltjes georiŽnteerd met hun twee grootste dimensies (of grootste geprojecteerde gebied) in de richting van de camera meet en dit levert ruisvrije gegevens op. Zij kunnen echter niet de kleinste deeltjesafmeting, dikte (T) meten, omdat deze afmeting langs de brandpunt as ligt en derhalve niet door de camera wordt gezien.

De driedimensionale DIA analyser meet zowel grootte als vorm parameters die 2-D DIA analysers ook kunnen meten. …ťn belangrijk verschil is dat 3-D DIA analysers bovendien de dikte of de kleinste diameter van de deeltjes kunnen meten. Deze functie is uniek voor de Microtrac DIA. Het systeem kan onder andere als snelle en voordelige vervanger van de zeefanalyse worden ingezet. Het systeem geeft alle grootte- en de vormresultaten weer die mogelijk zijn met dynamische beeldanalyse plus als extra de derde dimensie, dikte.

  Kennisbijdrage Geplaatst: 02-06-2016       Getoond: 997x  

Meer informatie

3D beeldanalyse met Microtrac
  ► 3D beeldanalyse met Microtrac

Bedrijfsinformatie

Ga naar de bedrijfspagina

Inventech Benelux BV

Inventech Benelux BV is leverancier van geavanceerde analyse instrumenten die weten wat u wilt meten. Ons brede pakket, met zowel laboratorium als (in-line)proces analyse instrumenten, biedt veel mogelijkheden voor uiteenlopende applicaties en industrieŽn. Bent u benieuwd welk analyse instrument uw proces kan optimaliseren? Onze productspecialisten helpen u bij het vinden van de juiste analyse techniek voor uw applicatie en geven advies specifiek gericht op uw proces, omgeving en industrie. Tevens bieden wij installatie, training en onderhoud van de analyse instrumenten door onze VCA-gecertificeerde service engineers. Een greep uit de mogelijkheden van onze analyse instrumenten: - Gas analyse - Stofemissie - Viscositeit metingen - Refractie index - Dichtheid - Vocht analyse - Deeltjeskarakterisering - Spectroscopie - Identificatie

Beurs

Ga naar de pagina van deze beurs

2016

04

OKT

World of Technology & Science (WoTS) Utrecht

Technologie vakbeurs Dinsdag 4 tot en met vrijdag 7 oktober 2016 staat Utrecht in het teken van de grootste technologie vakbeurs van de Benelux. Ruim 450 exposanten tonen un laatste ontwikkelingen en innovaties uit de vier werelden: World of Laboratory, World of Automation, World of Motion & Drives en World of Electronics. Voor bezoekers uit industrie, wetenschap en zorg staat een beursbezoek in het teken van kennisoverdracht en een goede samenwerking met hun toeleveranciers. Aanmelden voor een gratis beursbezoek kan via de link hieronder.

Onderwerppagina's

Deeltjesgroottemetingen

Deeltjesgroottemetingen

Meting van de deeltjesgrootteverdeling, deeltjesgrootteverdelingmeting; laboratorium testers deeltjesgrootteanalyse, procestesters deeltjesgrootteanalyse Op deze pagina vindt u actuele en achtergrondinformatie over Deeltjesgroottemetingen, en leveranciers die werkzaam zijn op dit gebied. De informatie is meestal aangeleverd door bedrijven, zodat u verzekerd bent van praktisch nut en toepasbaarheid.

Deeltjesvormmeting

Deeltjesvormmeting

Deeltjesvormanalyse, korrelvormmeting, korrelvormanalyse, laboratorium testers deeltjesvormanalyse, procestesters deeltjesvormanalyse Op deze pagina vindt u actuele en achtergrondinformatie over Deeltjesvormmeting, en leveranciers die werkzaam zijn op dit gebied. De informatie is meestal aangeleverd door bedrijven, zodat u verzekerd bent van praktisch nut en toepasbaarheid.
 
 .
 .
 .